鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進(jìn)行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購買時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求?？蛻粼谶x購時(shí)可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀特點(diǎn)
實(shí)用特點(diǎn)一：0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。
實(shí)用特點(diǎn)二：市面上的鍍層測厚儀，在使用時(shí)都是需要校準(zhǔn)的，但林上的鍍層測厚儀LS223，無需校準(zhǔn)，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開始測量。
實(shí)用特點(diǎn)三：儀器只有一個(gè)按鍵，省去繁瑣操作，測量更加的簡單。
實(shí)用特點(diǎn)四：測頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。
實(shí)用特點(diǎn)五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測試精度，即使溫度變化也不受影響。
實(shí)用特點(diǎn)六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測。

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